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SOT23 透射案例实拍
透射 TSCAN
声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，超声探伤显微镜，超声波扫描，超声波扫描仪，SAM超声扫描，声学扫描显微镜，声学扫描,SAT检测 分层扫描仪
声波扫描显微镜，超声扫描显微镜
德国公司的超声波扫描显微镜
其主要运用于半导体元器件,解决处理芯片，原料的内部结构失效表明．其可以检测出:1.原料的内部结构晶格结构，沉渣细颗粒物．夹杂物．沉积．2. 内部构造裂缝.3.划分层次缺陷.4.缝隙,气泡,空隙等.
超声波扫描显微镜和X光机区别:SAT为划分层次扫描机. X光为透射扫描机.
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超声波扫描显微镜，或超声波显微镜，半导体业界通常都直接简称为c-sam，或sat，主要应用到半导体器件的后封装检测当中。
超声波扫描显微镜简介
超声波显微镜，其实它与显微镜几乎不沾边，只是这玩意起先产生的国外，英文是：scanningacoustic microscope，简称sam。后来进入国内，大家也就直接翻译成超声波显微镜了，或者叫声扫显微镜了。因此在很多半导体器件封装厂，大家也就直接用泊业名：c-sam。其主要是针对集成电路（芯片）、大功率器件，如igbt、材料内部的失效分析。
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