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半导体失效分析设备汇总 SAT检测
产品时间：2022-09-27 17:08:28
简要描述：
日本union HISOMET 测量显微镜 型号DHII报价 详细见附件。 卖点：其采用聚焦指示器,设备辅助对焦.高度测量误差重复性1微米,行内进口显微镜里精度最高.90%的半导体行业用户用的都是此品牌. 如,NXP ,STS ,SCC,ASM,比亚迪,JABILL, 三星,东莞乐亿文半导体，木林森，风华芯电，...
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